蓋世汽車訊 近紅外（NIR）高光譜成像是一種極具前景的檢測(cè)技術(shù)，能夠捕捉詳細(xì)的3D光譜空間信息，使得基于光譜特征的材料和目標(biāo)的識(shí)別和表征成為可能。該技術(shù)依賴于色散光學(xué)和窄帶濾光片等策略，在化學(xué)、農(nóng)業(yè)和軍事等領(lǐng)域得到廣泛應(yīng)用。
然而，這些方法都存在局限性。此外，大規(guī)模InGaAs探測(cè)器陣列的制造也帶來了挑戰(zhàn)，因此開發(fā)新的實(shí)驗(yàn)方法和算法顯得很有必要，以推進(jìn)紅外高光譜成像技術(shù)的微型化并提高成本效益。
據(jù)外媒報(bào)道，山東大學(xué)（Shandong University）孫寶清教授和高原教授領(lǐng)導(dǎo)的研究團(tuán)隊(duì)介紹了一種編碼近紅外光譜和空間數(shù)據(jù)的新方法，相關(guān)研究成果發(fā)表在期刊《Light Science & Applications》上。
來源：第一電動(dòng)網(wǎng)
作者：蓋世汽車
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